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  • E3-P :PCB专用检测仪
  • E3-P :PCB专用检测仪

    HeLeeX E3-P是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),在仪器结构、功能、软件上都进行了全面优化。采用小光斑设计,针对各种PCB板、大面积样品的小测试点精确定位,避免材质干扰;双C型样品仓设计,X射线下照式,激光对焦精确定位,对于大型、异形不平整样品,无需拆分,可直接测试;全自动化样品台设计,仪器操作更简单。

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商品描述

HeLeeX E3-P是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),在仪器结构、功能、软件上都进行了全面优化。采用小光斑设计,针对各种PCB板、大面积样品的小测试点精确定位,避免材质干扰;双C型样品仓设计,X射线下照式,激光对焦精确定位,对于大型、异形不平整样品,无需拆分,可直接测试;全自动化样品台设计,仪器操作更简单。


辐射保护

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

● 辐射标志警示

●仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》


硬件技术

● X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于大件样品、异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试

● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率

● 最小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点精确定位,避免材质干扰,测量结果更准确

● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计

● 电路系统符合EMC、FCC测试标准


软件技术(HeLeeX ED Workstation V3.0)

● 分析元素:Na~U之间元素

● 分析时间:90秒

● 界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作

● 数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。


探测器

● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

● 信号处理系统:DP5


X射线管

● 电压:0-50v

● 最大电流;2mA

● 最大功率:50W

● 靶材:Mo

● Be窗厚度:0.2mm

● 使用寿命:大于2w小时


高压电源

● 输出电压:0-50Kv

● 灯丝电流0-2mA

● 最大功率:50w

● 纹波系数:0.1%(p-p值)

● 8小时稳定性:0.05%


摄像头

● 焦距:微焦距

● 驱动:免驱动

● 像素:500万像素


准直器、滤光片

● 系统:快拆卸准直器、滤光片系统

● 材质:多种材质准直器

● 光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

● 组合:多种滤光片(软件自动切换)、准直器组合


十字激光头

● 光斑形状:十字线

● 输出波长:红光650nm

● 光学透镜:玻璃透镜

● 尺寸:Φ10×30mm

● 发散角度:0.1-2mrad

● 工作电压:DC 5V

● 输出功率:<5mW

● 工作温度:-10~50℃

● 储存温度:-40~85℃


其它配件

● 开关电源:进口高性能开关电源

● 散热风扇:进口低噪声、大风量风扇


● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 最大功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露


●各种PCB板中的镀层测试;

●各种接插中的镀层测试;

●五金行业镀层测试;

●其他样品镀层测试。


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